보라색 텅스텐 산화물 XRD 사진

자주색 산화 텅스텐지도片

보라색 텅스텐 산화물 XRD 사진즉, 보라색 텅스텐의 X 선 회절 패턴은 VTO 분자 또는 결정 구조를 검출함으로써 얻어진 이미지이다. 아래 그림은 일반적인 자주색 산화 텅스텐 XRD 패턴을 보여 주며 내장형 그림은 VTO의 분자 구조 모델 다이어그램입니다.

전형적인 보라색 산화 텅스텐 XRD 패턴

XRD는 X 선 회절의 약자이며 X 선 회절은 X 선 회절 물질의 회절 패턴을 분석하여 물질 조성, 재료 내부의 원자 또는 분자의 구조 정보를 얻는 데 사용됩니다.

X-ray 회절 법은 Max von Laue에 의해 1912 년에 발명되었습니다. 원리는 X 선이 전자파의 본질이며 전자기파가 회절되어 장애물 주위에있을 수 있다는 것입니다.

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